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    Maßstab I/II - permanente Installation im Europäischen Patentamt, Treppenhaus 1


 
Patentamt Maßstab I/II

Europäisches Patentamt, München, Installation in zwei Treppenhäusern des Verwaltungsgebäudes in der Bayerstraße München 2005

Maßstab I
Ort: Treppenhaus 1, Europäisches Patentamt, München, Schräglage: 2,5 Grad;
Höhe: 24,5m, Aluminium / Lack / Gelb / Grau
Maßstab 2
Ort: Treppenhaus 2, Europäisches Patentamt, München, Schräglage: 3,5 Grad;
Höhe: 20,5m, Aluminium / Lack / Orange / Hellgrün
Das Europäische Patentamt in München setzt richtungweisende Standards und Maßstäbe zum Schutz geistigen Eigentums. Die Installation "Maßstab I/II" von Susanne Pittroff greift raum- und ortsbezogen die unterschiedlichen Bedeutungsebenen der Begriffe "Richtlinie" und "Maßstab" bzw. "Norm" auf, um diese mit den Maßgaben der Kunst zu reflektieren.


Statik: Lieb und Obermayr
Technische Entwicklung und Herstellung:
Christian Krebs und Thomas Kirner
Lackierung: Davor



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